理解和消除薄膜涂层期间的预测方法

药剂片可以容易受到平板电脑期间核心的损坏（如边缘碎裂或腐蚀）涂层过程。某些工艺参数，设备设计和片剂性质的交叉点可能会引起更明显的片剂损伤，如完整片剂骨折。在这项工作中，使用离散元素方法（DEM）建模和基于实验室的平板电脑影响实验来开发混合预测方法，以确定可能导致压片段破损事件的条件。

该方法延长以检查对涂层设备和工艺条件的潜在修改在Silico.在将来批次期间减轻片剂破损的可能性。该方法被证明可以增强过程理解，识别开发限制内的最佳过程条件，并使未来片剂涂层批次的制造进行失败。更多关于预测方法，在薄膜涂层期间了解和消除片剂破损

文章信息：Ketterhagen，W.R.，Larson，J.，Spence，K。等等。薄膜涂层中理解和消除片剂破损的预测方法。AAPS PHARMSCITECH22，178（2021）。https://doi.org/10.1208/S12249-021-02061-3

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