在不到2分钟的时间内测量涂层厚度和特性

用OSeeT技术从Phyllon片剂的测定涂层质量包括

  • 涂膜厚度
  • 涂层均匀性
  • 表面粗糙度

可以很容易地在线上测量,如下面的视频所示。该系统作为一个内联应用程序,但也在线。

OSeeT背后的技术是干涉测量

  • OCT基于白光干涉术:
    -宽带宽导致低相干长度
    -定义轴向(=深度)分辨率
  • 光被分成参考路径和探测路径
  • 光学样品臂聚焦光和确定横向(=表面)分辨率
  • 从两条路径反射回来的光的干涉
  • 光谱仪(光栅、CCD线扫描相机)
  • 通过傅里叶变换(FFT)从干涉条纹中获得深度信息
  • 测量单深度扫描

视频在线测量

有兴趣了解更多关于药物薄膜涂层的知识吗?参见我们的基础文章

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